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Título: Atomic force microscopy as a tool applied to nano/biosensors.
Autoria: STEFFENS, C.
LEITE, F. L.
BUENO, C. C.
MANZOLI, A.
HERRMANN JUNIOR, P. S. de P.
Afiliação: PAULO SERGIO DE P HERRMANN JUNIOR, CNPDIA.
Ano de publicação: 2012
Referência: Sensors, Basel, v. 12, p. 8278-8300, 2012.
NAL Thesaurus: Atomic force microscopy
Palavras-chave: Atomic force spectroscopy
Nanotecnology
Nanosensors
ISSN: 1424-8220
Digital Object Identifier: 10.3390/s120608278
Tipo do material: Artigo de periódico
Acesso: openAccess
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