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Title: Efeitos do armazenamento sobre parâmetros de qualidade tecnológica de feijão carioca.
Authors: VANIER, N. L.
PARAGINSKI, R. T.
FERREIRA, C. D.
BASSINELLO, P. Z.
ELIAS, M. C.
Affiliation: NATHAN LEVIEN VANIER, mestrando UFPel; RICARDO TADEU PARAGINSKI, graduando UFPel; CRISTIANO DIETRICH FERREIRA, graduando UFPel; PRISCILA ZACZUK BASSINELLO, CNPAF; MOACIR CARDOSO ELIAS, UFPel.
Date Issued: 2011
Citation: In: CONGRESSO NACIONAL DE PESQUISA DE FEIJÃO, 10., 2011, Goiânia. Anais... Goiânia: Embrapa Arroz e Feijão, 2011.
Description: Objetivou-se, com este trabalho, avaliar parâmetros tecnológicos de tempo de cocção e turbidez do caldo de cocção de diferentes cultivares brasileiras de feijão carioca antes e após armazenadas por 180 dias.
Thesagro: Feijão
Phaseolus vulgaris
Armazenamento
Notes: CONAFE.
Type of Material: Artigo em anais e proceedings
Access: openAccess
Appears in Collections:Artigo em anais de congresso (CNPAF)

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