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Campo DCValorLengua/Idioma
dc.contributor.authorBUZZO, P. M.pt_BR
dc.contributor.authorPICON, T.pt_BR
dc.contributor.authorFREITAS, A. R. dept_BR
dc.contributor.authorMILANI, D. M.pt_BR
dc.date.accessioned2015-02-21T09:41:56Z-
dc.date.available2015-02-21T09:41:56Z-
dc.date.created2002-12-10pt_BR
dc.date.issued2002pt_BR
dc.identifier.citationIn: CONGRESSO DE INICIAÇÃO CIENTÍFICA-CONIC, 2., 2002, São Carlos. Anais... São Carlos: SEMESP, 2002. v.1. p.518.pt_BR
dc.identifier.urihttp://www.alice.cnptia.embrapa.br/alice/handle/doc/46020pt_BR
dc.language.isoporpt_BR
dc.rightsopenAccesspt_BR
dc.subjectMedidas repetidaspt_BR
dc.subjectMedidas robustaspt_BR
dc.subjectEscalaspt_BR
dc.titleMedidas robustas de escalas aplicadas em dados de medidas repetidas.pt_BR
dc.typeResumo em anais e proceedingspt_BR
dc.date.updated2015-02-21T09:41:56Zpt_BR
riaa.ainfo.id46020pt_BR
riaa.ainfo.lastupdate2015-02-20pt_BR
dc.contributor.institutionPATRÍCIA MARIA BUZZO, UNICEPpt_BR
dc.contributor.institutionTIAGO PICON, UNICEPpt_BR
dc.contributor.institutionALFREDO RIBEIRO DE FREITAS, CPPSEpt_BR
dc.contributor.institutionDORIVAL MARCOS MILANI, UNICEP.pt_BR
Aparece en las colecciones:Resumo em anais de congresso (CPPSE)

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