Avaliação da correção de sinais de fundo causados pelos íons diatômicos Ar2 + e CN+ em ICP-MS com interface CRI.

GARCIA, E. E.; PEREIRA, C. D.; NOGUEIRA, A. R. de A.; NÓBREGA, J. A.

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Registro completo de metadados

Campo DC	Valor	Idioma
dc.contributor.author	GARCIA, E. E.	pt_BR
dc.contributor.author	PEREIRA, C. D.	pt_BR
dc.contributor.author	NOGUEIRA, A. R. de A.	pt_BR
dc.contributor.author	NÓBREGA, J. A.	pt_BR
dc.date.accessioned	2011-04-10T11:11:11Z	pt_BR
dc.date.available	2011-04-10T11:11:11Z	pt_BR
dc.date.created	2009-10-30	pt_BR
dc.date.issued	2009	pt_BR
dc.identifier.citation	In: ENCONTRO NACIONAL DE QUÍMICA ANALÍTICA, 15.; CONGRESSO IBEROAMERICANO DE QUÍMICA ANALÍTICA, 3., 2009, Salvador, BA. Anais... Salvador: SBQ: UFBA, 2009.	pt_BR
dc.identifier.uri	http://www.alice.cnptia.embrapa.br/alice/handle/doc/573661	pt_BR
dc.description	Íons poliatômicos são formados durante os processos de atomização no plasma de argônio e transferência da nuvem atômica para o espectrômetro de massa, gerando interferências isobáricas. Esses íons são particularmente problemáticos se as concentrações dos analitos estão próximas aos limites de detecção da técnica de espectrometria de massa acoplada ao plasma indutivo, ICP-MS. A formação de íons diatômicos é mais abundante, entre os quais se destacam o dímero do argônio 40Ar2 + (massa/carga, m/z = 80 ? 80Se+) e os íons 12C15N+ e 13C14N+ (m/z = 27 ? 27Al+). Dessa forma, a proposta deste trabalho foi avaliar o desempenho da interface de colisão e reação (CRI) para a correção de sinais de fundo nas razões m/z 27 e 80.	pt_BR
dc.language.iso	por	pt_BR
dc.rights	openAccess	pt_BR
dc.subject	Interface	pt_BR
dc.subject	Diatômicos	pt_BR
dc.title	Avaliação da correção de sinais de fundo causados pelos íons diatômicos Ar2 + e CN+ em ICP-MS com interface CRI.	pt_BR
dc.type	Resumo em anais e proceedings	pt_BR
dc.date.updated	2016-05-10T11:11:11Z	pt_BR
dc.subject.nalthesaurus	ions	pt_BR
riaa.ainfo.id	573661	pt_BR
riaa.ainfo.lastupdate	2016-05-10	pt_BR
dc.contributor.institution	EDIVALDO E. GARCIA, UEM, Maringá, PR.; CATARINIE D. PEREIRA, UFSCar, São Carlos, SP.; ANA RITA DE ARAUJO NOGUEIRA, CPPSE; JOAQUIM A. NÓBREGA, UFSCar, São Carlos, SP.	pt_BR
Aparece nas coleções:	Resumo em anais de congresso (CPPSE)

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