Por favor, use este identificador para citar o enlazar este ítem: http://www.alice.cnptia.embrapa.br/alice/handle/doc/1150976
Título: A test of economic thresholds for soybeans exposed to stink bugs and defoliation.
Autor: HAYASHIDA, R.
HOBACK, W. W.
BUENO, A. de F.
Afiliación: RAFAEL HAYASHIDA, UNIVERSIDADE FEDERAL DO PARANÁ; W. WYATT HOBACK, OKLAHOMA STATE UNIVERSITY; ADENEY DE FREITAS BUENO, CNPSO.
Año: 2023
Referencia: Crop Protection, v. 164, 106128, 2023.
Páginas: 10 p.
Thesagro: Soja
Dano
Praga de Planta
Euschistus Heros
NAL Thesaurus: Soybeans
Plant damage
Plant pests
DOI: 10.1016/j.cropro.2022.106128
Tipo de Material: Artigo de periódico
Acceso: openAccess
Aparece en las colecciones:Artigo em periódico indexado (CNPSO)

Ficheros en este ítem:
Fichero Descripción TamañoFormato 
Hayashida-et-al.-2022.pdf1.18 MBAdobe PDFVista previa
Visualizar/Abrir

FacebookTwitterDeliciousLinkedInGoogle BookmarksMySpace