Avaliação da espessura e da condutividade elétrica dos filmes finos de polianilina em função da temperatura de síntese utilizando as técnicas de microscopia de força atômica (AFM) e de quatro pontas.

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Campo DC	Valor	Lengua/Idioma
dc.contributor.author	PASCHOALIN, R. T.	pt_BR
dc.contributor.author	MANZOLI, A.	pt_BR
dc.contributor.author	STEFFENS, C.	pt_BR
dc.contributor.author	ALVES, W. F.	pt_BR
dc.contributor.author	HERRMANN, P. S. de P.	pt_BR
dc.date.accessioned	2013-07-16T23:34:07Z	-
dc.date.available	2013-07-16T23:34:07Z	-
dc.date.created	2009-11-26	pt_BR
dc.date.issued	2009	pt_BR
dc.identifier.citation	In: SIMPÓSIO INTERNACIONAL DE INICIAÇÃO CIENTÍFICA DA USP - SIICUSP, 17., 2009, São Carlos, SP. Anais.... São Carlos, SP: USP, 2009. 1 CD-ROM.	pt_BR
dc.identifier.uri	http://www.alice.cnptia.embrapa.br/alice/handle/doc/576352	pt_BR
dc.language.iso	por	pt_BR
dc.rights	openAccess	pt_BR
dc.subject	CONGRESSO	pt_BR
dc.title	Avaliação da espessura e da condutividade elétrica dos filmes finos de polianilina em função da temperatura de síntese utilizando as técnicas de microscopia de força atômica (AFM) e de quatro pontas.	pt_BR
dc.type	Artigo em anais e proceedings	pt_BR
dc.date.updated	2013-07-16T23:34:07Z	pt_BR
riaa.ainfo.id	576352	pt_BR
riaa.ainfo.lastupdate	2013-07-16	pt_BR
dc.contributor.institution	PAULO SERGIO DE P HERRMANN JUNIOR, CNPDIA.	pt_BR
Aparece en las colecciones:	Artigo em anais de congresso (CNPDIA)

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