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Título: Modeling sugar cane yield with a process-based model from site to continental scale: uncertainties arising from model structure and parameter values.
Autor: VALADE, A.
CIAIS, P.
VUICHARD, N.
VIOVY, N.
CAUBEL, A.
HUTH, N.
MARIN, F. R.
MARTINÉ, J.-F.
Afiliación: LSCE, CEA-CNRS; LSCE, CEA-CNRS; LSCE, CEA-CNRS; LSCE, CEA-CNRS; LSCE, CEA-CNRS; CSIRO; FABIO RICARDO MARIN, CNPTIA; Cirad.
Año: 2014
Referencia: Geoscientific Model Development, Gottingen, v. 7, p. 1225-1245, 2014.
Descripción: This study reveals the spatial and temporal patterns of uncertainty variability for a highly parameterized agro-LSM and calls for more systematic uncertainty analyses of such models.
NAL Thesaurus: Sugarcane
Models
Palabras clave: Modelagem
Modelos
Cana-de-açúcar
DOI: 10.5194/gmdd-7-1-2014
Tipo de Material: Artigo de periódico
Acceso: openAccess
Aparece en las colecciones:Artigo em periódico indexado (CNPTIA)

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