Title:	A critical-point yield model to appraise the damage caused to soybean by white-mold.
Authors:	REIS, E. M. ZANATTA, M. JULIATTI, F. C. CAMPOS, H. D. SILVA, L. H. C. P. MEYER, M. C. NUNES JUNIOR, J. PIMENTA, C. B. CASSETARI NETO, D. MACHADO, A. Q. UTIAMADA, C. M.
Affiliation:	Erlei M. REIS, Instituto AGRIS, Paso Fundo, RS. Mateus ZANATTA, Instituto AGRIS, Paso Fundo, RS. Fernando Cezar JULIATTI, Universidade Federal de Uberlândia, UFU, Uberlândia, MG. Hercules D. CAMPOS, Universidade de Rio Verde, Rio Verde, GO. Luis Henrique Carregal P. SILVA, Universidade de Rio Verde, Rio Verde, GO MAURICIO CONRADO MEYER, CNPSO José NUNES JUNIOR, CTPA, Centro Tecnológico Para Pesquisas Agropecuárias, Goiänia, GO. Cláudia B. PIMENTA, Universidade Federal de Mato Groso/UNIVAG – Cuiabá, MT. Daniel CASSETARI NETO, Universidade Federal de Mato Groso/UNIVAG – Cuiabá, MT. Andréia Q. MACHADO, TAGRO, Tecnologia Agropecuária, Londrina, PR. Carlos M. UTIAMADA, TAGRO, Tecnologia Agropecuária, Londrina, PR.
Date Issued:	2020
Citation:	Bioscience Journal, v. 36, n. 6, p. 1816-1820, 2020.
Thesagro:	Glycine Max Sclerotinia Sclerotiorum Podridão do Caule
NAL Thesaurus:	Stem rot
DOI:	http://dx.doi.org/10.14393/BJ-v36n6a2020-55438
Notes:	Título em português: Modelo de ponto crítico para estimar os danos causados pelo mofo-branco em soja. Artigo de acesso aberto.
Type of Material:	Artigo de periódico
Access:	openAccess
Appears in Collections:	Artigo em periódico indexado (CNPSO)