Título:	A critical-point yield model to appraise the damage caused to soybean by white-mold.
Autor:	REIS, E. M. ZANATTA, M. JULIATTI, F. C. CAMPOS, H. D. SILVA, L. H. C. P. MEYER, M. C. NUNES JUNIOR, J. PIMENTA, C. B. CASSETARI NETO, D. MACHADO, A. Q. UTIAMADA, C. M.
Afiliación:	Erlei M. REIS, Instituto AGRIS, Paso Fundo, RS. Mateus ZANATTA, Instituto AGRIS, Paso Fundo, RS. Fernando Cezar JULIATTI, Universidade Federal de Uberlândia, UFU, Uberlândia, MG. Hercules D. CAMPOS, Universidade de Rio Verde, Rio Verde, GO. Luis Henrique Carregal P. SILVA, Universidade de Rio Verde, Rio Verde, GO MAURICIO CONRADO MEYER, CNPSO José NUNES JUNIOR, CTPA, Centro Tecnológico Para Pesquisas Agropecuárias, Goiänia, GO. Cláudia B. PIMENTA, Universidade Federal de Mato Groso/UNIVAG – Cuiabá, MT. Daniel CASSETARI NETO, Universidade Federal de Mato Groso/UNIVAG – Cuiabá, MT. Andréia Q. MACHADO, TAGRO, Tecnologia Agropecuária, Londrina, PR. Carlos M. UTIAMADA, TAGRO, Tecnologia Agropecuária, Londrina, PR.
Año:	2020
Referencia:	Bioscience Journal, v. 36, n. 6, p. 1816-1820, 2020.
Thesagro:	Glycine Max Sclerotinia Sclerotiorum Podridão do Caule
NAL Thesaurus:	Stem rot
DOI:	http://dx.doi.org/10.14393/BJ-v36n6a2020-55438
Notas:	Título em português: Modelo de ponto crítico para estimar os danos causados pelo mofo-branco em soja. Artigo de acesso aberto.
Tipo de Material:	Artigo de periódico
Acceso:	openAccess
Aparece en las colecciones:	Artigo em periódico indexado (CNPSO)