Identificação de defeitos em bananas através do mapeamento do áreas de risco utilizando análise de textura e visão computacional.

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Registro completo de metadados

Campo DC	Valor	Idioma
dc.contributor.author	TEZUKA, É. S.	pt_BR
dc.contributor.author	CRUVINEL, P. E.	pt_BR
dc.date.accessioned	2011-04-10T11:11:11Z	pt_BR
dc.date.available	2011-04-10T11:11:11Z	pt_BR
dc.date.created	2009-11-26	pt_BR
dc.date.issued	2009	pt_BR
dc.identifier.citation	In: CONGRESSO BRASILEIRO DE AGROINFORMÁTICA - SIBIAgro, 7., 2009, Viçosa, MG. Anais.... Viçosa, MG: UFV, 2009. 1 CD-ROM.	pt_BR
dc.identifier.uri	http://www.alice.cnptia.embrapa.br/alice/handle/doc/576349	pt_BR
dc.language.iso	por	pt_BR
dc.rights	openAccess	pt_BR
dc.subject	CONGRESSO	pt_BR
dc.title	Identificação de defeitos em bananas através do mapeamento do áreas de risco utilizando análise de textura e visão computacional.	pt_BR
dc.type	Artigo em anais e proceedings	pt_BR
dc.date.updated	2013-09-27T11:11:11Z	pt_BR
riaa.ainfo.id	576349	pt_BR
riaa.ainfo.lastupdate	2013-09-27	pt_BR
dc.contributor.institution	PAULO ESTEVAO CRUVINEL, CNPDIA.	pt_BR
Aparece nas coleções:	Artigo em anais de congresso (CNPDIA)

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