Por favor, use este identificador para citar o enlazar este ítem:
http://www.alice.cnptia.embrapa.br/alice/handle/doc/576349| Título: | Identificação de defeitos em bananas através do mapeamento do áreas de risco utilizando análise de textura e visão computacional. |
| Autor: | TEZUKA, É. S.  CRUVINEL, P. E. |
| Afiliación: | PAULO ESTEVAO CRUVINEL, CNPDIA. |
| Año: | 2009 |
| Referencia: | In: CONGRESSO BRASILEIRO DE AGROINFORMÁTICA - SIBIAgro, 7., 2009, Viçosa, MG. Anais.... Viçosa, MG: UFV, 2009. 1 CD-ROM. |
| Palabras clave: | CONGRESSO |
| Tipo de Material: | Artigo em anais e proceedings |
| Acceso: | openAccess |
| Aparece en las colecciones: | Artigo em anais de congresso (CNPDIA) |
Ficheros en este ítem:
| Fichero | Descripción | Tamaño | Formato | |
|---|---|---|---|---|
| Proci09.00105.pdf | 3.89 MB | Adobe PDF |  Visualizar/Abrir |
