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http://www.alice.cnptia.embrapa.br/alice/handle/doc/576349
Título: | Identificação de defeitos em bananas através do mapeamento do áreas de risco utilizando análise de textura e visão computacional. |
Autor: | TEZUKA, É. S.![]() ![]() CRUVINEL, P. E. ![]() ![]() |
Afiliación: | PAULO ESTEVAO CRUVINEL, CNPDIA. |
Año: | 2009 |
Referencia: | In: CONGRESSO BRASILEIRO DE AGROINFORMÁTICA - SIBIAgro, 7., 2009, Viçosa, MG. Anais.... Viçosa, MG: UFV, 2009. 1 CD-ROM. |
Palabras clave: | CONGRESSO |
Tipo de Material: | Artigo em anais e proceedings |
Acceso: | openAccess |
Aparece en las colecciones: | Artigo em anais de congresso (CNPDIA)![]() ![]() |
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Fichero | Descripción | Tamaño | Formato | |
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