Título:	Desenvolvimento de sistema capaz de monitorar temperatura e umidade relativa em câmara de microscópio de força atômica.
Autoria:	SANDOVAL, R. D.; STEFFENS, C.; VENDRAMINI, G. HERRMANN, P. S. P.
Afiliação:	PAULO SERGIO DE P HERRMANN JUNIOR, CNPDIA.
Ano de publicação:	2012
Referência:	In: WORKSHOP DA REDE DE NANOTECNOLOGIA APLICADA AO AGRONEGÓCIO, 6., 2012, Fortaleza. Anais... São Carlos: Embrapa Instrumentação; Fortaleza: Embrapa Agroindústria Tropical, 2012. p. 48-49. Editores: Maria Alice Martins, MOrsyleide de Freitas Rosa, Men de Sá Moreira de Souza Filho, Nicodemos Moreira dos Santos Junior, Odílio Benedito Garrido de Assis, Caue Ribeiro, Luiz Henrique Capparelli Mattoso.
Thesagro:	Umidade Temperatura
Palavras-chave:	Microcontrolador Microscopia de força atômica (AFM) PIC
ISSN:	2175-8395
Tipo do material:	Artigo em anais e proceedings
Acesso:	openAccess
Aparece nas coleções:	Artigo em anais de congresso (CNPDIA)