Título:	Desenvolvimento de sistema capaz de monitorar temperatura e umidade relativa em câmara de microscópio de força atômica.
Autor:	SANDOVAL, R. D.; STEFFENS, C.; VENDRAMINI, G. HERRMANN, P. S. P.
Afiliación:	PAULO SERGIO DE P HERRMANN JUNIOR, CNPDIA.
Año:	2012
Referencia:	In: WORKSHOP DA REDE DE NANOTECNOLOGIA APLICADA AO AGRONEGÓCIO, 6., 2012, Fortaleza. Anais... São Carlos: Embrapa Instrumentação; Fortaleza: Embrapa Agroindústria Tropical, 2012. p. 48-49. Editores: Maria Alice Martins, MOrsyleide de Freitas Rosa, Men de Sá Moreira de Souza Filho, Nicodemos Moreira dos Santos Junior, Odílio Benedito Garrido de Assis, Caue Ribeiro, Luiz Henrique Capparelli Mattoso.
Thesagro:	Temperatura Umidade
Palabras clave:	Microcontrolador PIC Microscopia de força atômica (AFM)
ISSN:	2175-8395
Tipo de Material:	Artigo em anais e proceedings
Acceso:	openAccess
Aparece en las colecciones:	Artigo em anais de congresso (CNPDIA)