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http://www.alice.cnptia.embrapa.br/alice/handle/doc/576349| Title: | Identificação de defeitos em bananas através do mapeamento do áreas de risco utilizando análise de textura e visão computacional. |
| Authors: | TEZUKA, É. S.  CRUVINEL, P. E. |
| Affiliation: | PAULO ESTEVAO CRUVINEL, CNPDIA. |
| Date Issued: | 2009 |
| Citation: | In: CONGRESSO BRASILEIRO DE AGROINFORMÁTICA - SIBIAgro, 7., 2009, Viçosa, MG. Anais.... Viçosa, MG: UFV, 2009. 1 CD-ROM. |
| Keywords: | CONGRESSO |
| Type of Material: | Artigo em anais e proceedings |
| Access: | openAccess |
| Appears in Collections: | Artigo em anais de congresso (CNPDIA) |
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