Avaliação da espessura e da condutividade elétrica dos filmes finos de polianilina em função da temperatura de síntese utilizando as técnicas de microscopia de força atômica (AFM) e de quatro pontas.

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Title:	Avaliação da espessura e da condutividade elétrica dos filmes finos de polianilina em função da temperatura de síntese utilizando as técnicas de microscopia de força atômica (AFM) e de quatro pontas.
Authors:	PASCHOALIN, R. T. MANZOLI, A. STEFFENS, C. ALVES, W. F. HERRMANN, P. S. de P.
Affiliation:	PAULO SERGIO DE P HERRMANN JUNIOR, CNPDIA.
Date Issued:	2009
Citation:	In: SIMPÓSIO INTERNACIONAL DE INICIAÇÃO CIENTÍFICA DA USP - SIICUSP, 17., 2009, São Carlos, SP. Anais.... São Carlos, SP: USP, 2009. 1 CD-ROM.
Keywords:	CONGRESSO
Type of Material:	Artigo em anais e proceedings
Access:	openAccess
Appears in Collections:	Artigo em anais de congresso (CNPDIA)

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