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http://www.alice.cnptia.embrapa.br/alice/handle/doc/576352| Título: | Avaliação da espessura e da condutividade elétrica dos filmes finos de polianilina em função da temperatura de síntese utilizando as técnicas de microscopia de força atômica (AFM) e de quatro pontas. |
| Autoria: | PASCHOALIN, R. T.  MANZOLI, A. STEFFENS, C. ALVES, W. F. HERRMANN, P. S. de P. |
| Afiliação: | PAULO SERGIO DE P HERRMANN JUNIOR, CNPDIA. |
| Ano de publicação: | 2009 |
| Referência: | In: SIMPÓSIO INTERNACIONAL DE INICIAÇÃO CIENTÍFICA DA USP - SIICUSP, 17., 2009, São Carlos, SP. Anais.... São Carlos, SP: USP, 2009. 1 CD-ROM. |
| Palavras-chave: | CONGRESSO |
| Tipo do material: | Artigo em anais e proceedings |
| Acesso: | openAccess |
| Aparece nas coleções: | Artigo em anais de congresso (CNPDIA) |
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